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Enhancement of the Bond Strength and Reduction of Wafer Edge Voids in Hybrid Bonding 混合键合中提高键合强度和减少晶片边缘空隙
相关领域
材料科学
薄脆饼
粘结强度
空隙(复合材料)
晶片键合
复合材料
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阳极连接
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光电子学
物理
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量子力学
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期刊:Micromachines 作者:Yeoun-Soo Kim; Thanh Hai Nguyen; Sung‐Hoon Choa 出版日期:2022-03-29 |
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