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Investigation of Dominant Flicker Noise Source in Ferroelectric FETs with Fluorinated Interface |
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期刊:2024 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) 作者:Yannick Raffel; Shouzhuo Yang; Ricardo Olivo; Konrad Seidel; Luca Pirro; et al 出版日期:2024 |
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(2025-6-4)