| 标题 |
 An Online Gate Oxide Degradation Monitoring Method for SiC MOSFETs With Contactless PCB Rogowski Coil Approach 基于非接触PCB Rogowski线圈法的SiC MOSFET栅极氧化退化在线监测方法
相关领域
罗戈夫斯基线圈
MOSFET
降级（电信）
材料科学
栅氧化层
电气工程
电子工程
氧化物
光电子学
电磁线圈
碳化硅
晶体管
工程类
电压
复合材料
冶金
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| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 | IEEE Transactions on Power Electronics, 2023, 38,(8): 9673-9684. |
| 求助人 | |
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