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Analysis of surface morphology at leakage current sources on large-area GaN-based p-i-n diodes 大面积GaN基p-i-n二极管漏电流源表面形貌分析
相关领域
泄漏(经济)
二极管
扫描电子显微镜
光电子学
材料科学
反向漏电流
肖特基二极管
复合材料
宏观经济学
经济
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Qian Yang; Jing Yang; Zongshun Liu; Lihong Duan; Degang Zhao 出版日期:2023-08-11 |
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