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 Equiprobability-Based Local Response Surface Method for High-Sigma Yield Estimation With Both High Accuracy and Efficiency 基于等概率的高Sigma产量估计局部响应面方法
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期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Xiang Liu; Pengpeng Ren; Hai‐Bao Chen; Zhigang Ji; Junhua Liu; et al 出版日期：2022-07-26 |
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