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  Longitudinal Wave Defect Detection Technology Based on Ablation Mechanism 基于烧蚀机理的纵波缺陷检测技术
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期刊：Photonics 作者：Jian Wang; Xing Guo; Yanqin Xun; Junzuo Liu; Xin Guo; et al 出版日期：2024-08-28 |
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