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标题
Up to 2 µm thick crack-free PZT-PVP sol-gel process optimization, and wafer-level d 33,f -e 31,f characterization for piezo-MEMS
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DOI
10.1109/ius62464.2025.11201250 doi
其它 期刊:2025 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS)
作者:Sanjog Vilas Joshi; Sina Sadeghpour; Michael Kraft
出版日期:2025-10-21
求助人
Haj1mi 在 2026-03-10 14:40:12 发布自伊朗,悬赏 10 积分
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