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Etch Rate Uniformity Monitoring for Photoresist Etch Using Multi-channel Optical Emission Spectroscopy and Scanning Floating Harmonic Probe in an Inductively Coupled Plasma Reactor 相关领域
腐蚀坑密度
光刻胶
分析化学(期刊)
感应耦合等离子体
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材料科学
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物理
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期刊:Plasma Chemistry and Plasma Processing 作者:Sang‐Hun Lee; Sang-Hee Han; Jaehyeon Kim; Minsung Jeon; Heeyeop Chae 出版日期:2024-08-18 |
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