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Electro-thermal reliability analysis and performance evaluation of a 1.2 kV cascode GaN HEMT for high-power-density applications
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DOI
10.1088/1361-6528/ae5880 doi
其它 期刊:Nanotechnology
作者:Chen Chong; Hongxia Liu; Shulong Wang; Shupeng Chen
出版日期:2026
求助人
Dzinver 在 2026-04-21 11:38:05 发布自广东,悬赏 10 积分
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