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 Precise Determination of the Valence-Band Edge in X-Ray Photoemission Spectra: Application to Measurement of Semiconductor Interface Potentials 相关领域
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期刊：Physical Review Letters 作者：E. A. Kraut; R. W. Grant; J. R. Waldrop; S. P. Kowalczyk 出版日期：2002-07-27 |
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