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  ToF-SIMS Investigations of Tip-Surface Chemical Interactions in Atomic Force Microscopy on a Combined AFM/ToF-SIMS Platform AFM/ToF-SIMS组合平台上原子力显微镜尖端-表面化学相互作用的ToF-SIMS研究
相关领域
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扫描电子显微镜
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期刊：Microscopy and Microanalysis 作者：Chance Brown; Anton V. Ievlev; Petro Maksymovych; Sergei V. Kalinin; Olga S. Ovchinnikova 出版日期：2017-07-01 |
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