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Microstructural dependence of residual stress in reactively sputtered epitaxial GaN films 反应溅射外延GaN薄膜残余应力的微观结构依赖性
相关领域
材料科学
纤锌矿晶体结构
蓝宝石
分析化学(期刊)
外延
微晶
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图层(电子)
锌
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期刊:Journal of Physics D Applied Physics 作者:Mohammad Monish; S.S. Major 出版日期:2020-11-27 |
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