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 Direct Measurement of Negative Capacitance in Ferroelectric/Semiconductor Heterostructures 铁电/半导体异质结构负电容的直接测量
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Lin Liu; Lin Lei; Xiaomei Lü; Yinsong Xia; Zijing Wu; et al 出版日期：2023-02-08 |
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