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 Spectrometry studies of Ag implanted silicon carbide thin films for application as a diffusion barrier against transition metals 银注入碳化硅薄膜作为过渡金属扩散阻挡层的光谱研究
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期刊：Materials Today Proceedings 作者：Thandi Elinah Mazibuko; S. Halindintwali; Christopher J. Arendse; Siphelo Ngqoloda; O. Nemraoui; et al 出版日期：2020-04-06 |
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Shirley Lv
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