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The Trends of In Situ Focused Ion Beam Technology: Toward Preparing Transmission Electron Microscopy Lamella and Devices at the Atomic Scale 相关领域
材料科学
透射电子显微镜
板层(表面解剖学)
聚焦离子束
纳米技术
纳米尺度
晶体管
离子
抛光
电子全息术
样品制备
表征(材料科学)
光电子学
电气工程
工程类
物理
复合材料
量子力学
电压
化学
色谱法
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期刊:Advanced electronic materials 作者:Zijian Zhang; Wanting Wang; Zuoyuan Dong; Xin Yang; Fang Liang; et al 出版日期:2022-03-30 |
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