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  Performance and Characterization of CsI:Tl thin Films for X-ray Imaging Application X射线成像用CsI：Tl薄膜的性能与表征
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期刊：Physics Procedia 作者：E.A. Kozyrev; K.E. Kuper; A.G. Lemzyakov; A.V. Petrozhitskiy; A.S. Popov 出版日期：2016-12-12 |
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