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 Mechanism of electrical performance degradation of 4H-SiC junction barrier Schottky diodes induced by neutron irradiation 中子辐照引起4H-SiC结势垒肖特基二极管电性能退化的机制
相关领域
肖特基势垒
光电子学
降级（电信）
材料科学
辐照
二极管
机制（生物学）
中子辐照
肖特基二极管
金属半导体结
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期刊：Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-beam Interactions With Materials and Atoms 作者：Hao Li; Jingying Wang; Binghua Song; Heyi Li; Long Geng; et al 出版日期：2024-07-02 |
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