| 标题 |
 Impact of Structural Variation in SiC MOSFETs on TSEP Performances for Temperature Estimation SiC MOSFET结构变化对温度估计TSEP性能的影响
相关领域
材料科学
变化（天文学）
MOSFET
工程物理
估计
光电子学
电子工程
温度测量
环境科学
电气工程
工程类
物理
热力学
晶体管
系统工程
电压
天体物理学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Kun Tan; M. X. Luo; Junsong Jiang; Xi Tang; Shu Yang; et al 出版日期：2025-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
秋风
Nole
无极微光
嘉心糖
Enigma_GEB
cdercder
极限001
fcjnb
xing_xing
aaaa
你好你好
null
DOC_XIONG
蓝天
脆弱的刺猬
牧青
七听
Criminology34
GingerF
渡人舟
皖公网安备34019202002308
