| 标题 |
 Evidence of Widely Distributed Time Constants in the Vertical Charge Loss of 3-D Charge-Trap NAND Flash Memories 相关领域
与非门
时间常数
闪光灯（摄影）
堆栈（抽象数据类型）
存水弯（水管）
电荷（物理）
泄漏（经济）
俘获
光电子学
材料科学
原子物理学
逻辑门
物理
电气工程
计算机科学
光学
工程类
量子力学
经济
气象学
宏观经济学
程序设计语言
生物
生态学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：David G. Refaldi; Gerardo Malavena; Luca Chiavarone; Alessandro S. Spinelli; Christian Monzio Compagnoni 出版日期：2024-07-30 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
cdercder
HFH
AllRightReserved
嘻嘻哈哈
dde
Rainyin
GingerF
arniu2008
369ninja
无极微光
Nexus
仰望喀纳斯的星空
乐观地sail
ccm
栗子
OK
挖掘机
lizishu
科研狗
寒冷不言
皖公网安备34019202002308
