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Spectroscopic ellipsometry and its applications in the study of thin film materials 相关领域
椭圆偏振法
材料科学
薄膜
光学
纳米技术
物理
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期刊:Chinese Optics 作者:朱绪丹 ZHU Xu-dan; 张荣君 Zhang Rongjun; 郑玉祥 ZHENG Yu-xiang; 王松有 WANG Song-you; 陈良尧 Chen Liangyao 出版日期:2019-01-01 |
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