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Effect of Acceptor Traps in GaN Buffer Layer on Breakdown Performance of AlGaN/GaN HEMTs GaN缓冲层中受主陷阱对AlGaN/GaN HEMTs击穿性能的影响
相关领域
材料科学
光电子学
击穿电压
电场
兴奋剂
晶体管
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缓冲器(光纤)
电离
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宽禁带半导体
电压
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期刊:Micromachines 作者:Maodan Ma; Yanrong Cao; Hanghang Lv; Zhiheng Wang; Xin‐Xiang Zhang; et al 出版日期:2022-12-28 |
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