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 Image-Based Defect Classification for TFT-LCD Array via Convolutional Neural Network 基于卷积神经网络的TFT-LCD阵列缺陷分类
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期刊：IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者：Chen–Fu Chien; Yu-Mei Ling; Sheng-Xiang Kao; Chun‐Hui Lin 出版日期：2022-08-25 |
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