| 标题 |
 Thickness dependence of Al0.88Sc0.12N thin films grown on silicon 硅上生长的Al0.88Sc 0.12 N薄膜的厚度依赖性
相关领域
材料科学
晶格常数
残余应力
透射电子显微镜
无定形固体
薄膜
分析化学（期刊）
外延
溅射
氮化物
半最大全宽
表面光洁度
复合材料
衍射
结晶学
光学
纳米技术
化学
光电子学
物理
色谱法
图层（电子）
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
Copyright
arniu2008
嘻嘻哈哈
OK
lili
迷人的天抒
sissiarno
学术文献互助
不潮薯饼
竹青
Criminology34
路豐遙
GingerF
乐空思
Raftaar
haijun
Nole
LL
无情的聪健
皖公网安备34019202002308
