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Optimized HZO/Al2O3 gate stack enables thermally stable β-Ga2O3 ferroelectric field-effect transistors with an enhanced memory window |
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期刊: 作者:Seungyun Lee; Jaewook Lee; Sanghyun Moon; Seokjin Ko; Seongyun Yang; et al 出版日期:2026-08-01 |
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(2025-6-4)