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 The Investigation of the Hysteresis and Reliability Mechanism of Amorphous Oxide Semiconductor Thin-Film Transistors Applied in Dynamic Random Access Memory 相关领域
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Jie Luo; Yunjiao Bao; Yanyu Yang; Yupeng Lu; Guilei Wang; et al 出版日期：2025-03-03 |
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