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 Nonvolatile Flip-Flop Designs with Soft Error Recovery Based on Magnetic Tunnel Junction and CMOS for Aerospace Applications 相关领域
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期刊：Journal of Electronic Testing 作者：Zhongyu Gao; Huan Liu; Jie Song; Zhiyuan Pei; Wangjin Jiang; et al 出版日期：2026-05-06 |
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