CMOS芯片
航空航天
软错误
隧道磁电阻
辐射硬化
电子工程
电气工程
工程类
数字电子学
电子线路
材料科学
功率(物理)
隧道枢纽
错误检测和纠正
计算机科学
电压
集成电路
辐射
光电子学
硬化(计算)
作者
Zhongyu Gao,Huan Liu,Jie Song,Zhiyuan Pei,Wangjin Jiang,Qijun Wang,Xiaoqing Wen
标识
DOI:10.1007/s10836-026-06226-5
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI