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 Impact of TID on Within-Wafer Variability of Radiation-Hardened SOI Wafers TID对辐射硬化SOI晶片晶片内可变性的影响
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Qiwen Zheng; Jiangwei Cui; Xue‐Feng Yu; Yudong Li; Wu Lu; et al 出版日期：2021-05-17 |
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