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A 67F2 Reconfigurable PUF Using 1T2R RRAM Switching Competition in 28nm CMOS with 5e-9 Bit Error Rate 相关领域
电阻随机存取存储器
CMOS芯片
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期刊:2022 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 作者:Yue Cao; Honghu Yang; Jianguo Yang; Qi Liu; Ming Liu 出版日期:2024-06-16 |
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