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![]() 沟槽结构中基于HfO2/SiO2堆叠栅介质的高击穿低泄漏4H-SiC MOS电容器
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期刊:Nanomaterials 作者:Qimin Huang; Y. P. Guo; Anfeng Wang; Lin Gu; Zhenyu Wang; et al 出版日期:2025-02-22 |
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miravai
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2025-08-04 23:34:19 发布,悬赏 10 积分
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