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Advanced Wafer Drying Technology for 1x Node and Beyond Using Surface Modification Method 使用表面改性方法的1x节点及以上的先进晶圆干燥技术
相关领域
单层
薄脆饼
表面张力
节点(物理)
材料科学
接触角
干洗
纳米技术
复合材料
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物理
结构工程
热力学
废物管理
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期刊:ECS Transactions 作者:Tsukasa Watanabe; Takayuki Toshima; Mitsunori Nakamori; Keisuke Egashira; Yasuyuki Ido; et al 出版日期:2013-08-31 |
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