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EBSD and TKD analyses using inverted contrast Kikuchi diffraction patterns and alternative measurement geometries 相关领域
电子背散射衍射
对比度(视觉)
材料科学
菊池线
衍射
光学
结晶学
物理
化学
电子衍射
反射高能电子衍射
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Grzegorz Cios; Aimo Winkelmann; Gert Nolze; Tomasz Tokarski; Benedykt R. Jany; et al 出版日期:2024-09-21 |
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