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 Heuristic Detection of the Most Vulnerable Regions in Electronic Devices for Radiation Survivability 相关领域
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：Sergei P. Stepanoff; Md Abu Jafar Rasel; Aman Haque; Douglas E. Wolfe; F. Ren; et al 出版日期：2022-08-01 |
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