| 标题 |
 Application of the polyhedral template matching method for characterization of 2D atomic resolution electron microscopy images 相关领域
材料科学
表征（材料科学）
分辨率（逻辑）
能量过滤透射电子显微镜
透射电子显微镜
图像分辨率
高分辨率透射电子显微镜
方向（向量空间）
电子断层摄影术
扫描透射电子显微镜
光学
人工智能
计算机科学
纳米技术
物理
几何学
数学
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| 网址 | |
| DOI |
10.1016/j.matchar.2024.114017
doi
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| 其它 |
期刊：Materials Characterization 作者：Darcey Britton; Alejandro Hinojos; Michelle Hummel; David P. Adams; Douglas L. Medlin 出版日期：2024-05-25 |
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RomanYoung
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