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 Degradation mechanisms in high power InGaN semiconductor lasers investigated by electrical, optical, spectral and C-DLTS measurements 相关领域
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Francesco Piva; Carlo De Santi; Matteo Buffolo; Mattia Taffarel; Gaudenzio Meneghesso; et al 出版日期：2020-10-31 |
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