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Curvilinear masks extend lithography options for advanced node memory roadmaps 相关领域
曲线坐标
平版印刷术
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计算机科学
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物理
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10.1117/1.jmm.23.4.041504
doi
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期刊:Journal of micro/nanopatterning, materials, and metrology 作者:Ezequiel Vidal-Russell 出版日期:2024-09-12 |
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(2025-6-4)