Effect of top gate bias on photocurrent and negative bias illumination stress instability in dual gate amorphous indium-gallium-zinc oxide thin-film transistor

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标题	[高分] Effect of top gate bias on photocurrent and negative bias illumination stress instability in dual gate amorphous indium-gallium-zinc oxide thin-film transistor
网址	https://pubs.aip.org/aip/apl/article-pdf/doi/10.1063/1.49374...
DOI	10.1063/1.4937441 doi
其它	期刊：Applied Physics Letters 作者：Eunji Lee; D. Chowdhury; M. Park; Jin Jang 出版日期：2015-12-10
求助人	默存在 2026-09-21 15:17:37 发布自江苏，悬赏 50 积分
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