| 标题 |
Interferometric and deflectometric flatness metrology with nanometre measurement uncertainties for optics up to 1 metre at PTB |
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| DOI |
10.1117/12.2538872
doi
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作者:G. Ehret, H. Reinsch, M. Schulz; 期刊:SPIE 卷号:11189 出版日期:2019 |
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(2025-6-4)