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Ultra low p-type SiGe contact resistance FinFETs with Ti silicide liner using cryogenic contact implantation amorphization and Solid-Phase Epitaxial Regrowth (SPER) |
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期刊:2016 IEEE Symposium on VLSI Technology 作者:Y. R. Yang; N. Breil; C. Y. Yang; J. Hsieh; F. Chiang; et al 出版日期:2016-06-14 |
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