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 Multi‐Level Control of Conductive Filament Evolution and Enhanced Resistance Controllability of the Cu‐Cone Structure Embedded Conductive Bridge Random Access Memory 铜锥结构嵌入式导电桥随机访问存储器的导电丝演变和增强的电阻可控性
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期刊：Advanced electronic materials 作者：Hae Jin Kim; Jihun Kim; Taegyun Park; Jung Ho Yoon; Cheol Seong Hwang 出版日期：2021-06-21 |
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(2025-6-4)
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