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 Depth-dependent recovery of thermal conductivity after recrystallization of amorphous silicon 非晶硅再结晶后热导率的深度相关恢复
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Kenny Huynh; Yekan Wang; Michael E. Liao; Thomas W. Pfeifer; John A. Tomko; et al 出版日期：2023-04-03 |
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