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 Influence of surface topography on in situ reflection electron energy loss spectroscopy plasmon spectra of AlN, GaN, and InN semiconductors 相关领域
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期刊：Journal of Vacuum Science & Technology A Vacuum Surfaces and Films 作者：B. Strawbridge; Nathan Cernetic; J. Chapley; R. K. Singh; S. Mahajan; et al 出版日期：2011-05-24 |
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