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 Gate Stack Analysis of Nanosheet FET for Analog and Digital Circuit Applications 用于模拟和数字电路应用的纳米片场效应晶体管的栅极堆叠分析
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期刊：ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者：N. Aruna Kumari; Vikas Vijayvargiya; Abhishek Upadhyay; V. Bharath Sreenivasulu; Vadthiya Narendar; et al 出版日期：2023-10-31 |
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