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[高分]
3D device‐level simulation of charge separation from sidewall in vertical transfer gate pinned photodiode pixels for noise mitigation 相关领域
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期刊:IET Circuits Devices & Systems 作者:Sakineh Heidari; Hamzeh Alaibakhsh; Mohammad Azim Karami 出版日期:2020-02-22 |
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