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![]() 基于表面粗糙度散射非线性模型的Si NMOSFET迁移率对有效电场的普遍性解释
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期刊:Applied Physics Express 作者:Kei Sumita; Kasidit Toprasertpong; Mitsuru Takenaka; Shinichi Takagi 出版日期:2023-05-18 |
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