| 标题 |
 Direct observation of contact potential distributions of wafer-bonded p-GaAs/n-GaN and p-GaAs/n-Si by scanning Kelvin probe force microscopy 用扫描Kelvin探针力显微镜直接观察晶片键合p-GaAs/n-GaN和p-GaAs/n-Si的接触电位分布
相关领域
欧姆接触
开尔文探针力显微镜
肖特基势垒
异质结
伏打电位
薄脆饼
材料科学
光电子学
晶片键合
显微镜
化学
图层（电子）
纳米技术
原子力显微镜
光学
二极管
物理
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Zhiwei Xing; Wenxian Yang; Yukun Zhao; Junhua Long; Xuefei Li; et al 出版日期：2020-10-12 |
| 求助人 | |
| 下载 | 暂无链接，等待应助者上传 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
鸣笛
彭于彦祖
SYLH
yar
眯眯眼的衬衫
热心市民小红花
王治焕
Baron604
shinysparrow
iNk
良辰
柯一一
hjmxb
ED
eric888
Singularity
tramp
coolkid
从容芮
挖掘机
皖公网安备34019202002308
