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Influence of e-beam aperture angle on critical dimensions-scanning electron microscopes measurements for high aspect ratio structure |
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10.1117/1.jmm.18.2.021204
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期刊:Journal of Micro-nanolithography Mems and Moems 作者:Daisuke Bizen; Makoto Sakakibara 出版日期:2019-04-06 |
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(2025-6-4)