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 Single-event burnout of LDMOS with polygon P+ structure 多边形P+结构LDMOS的单事件烧毁
相关领域
LDMOS
多边形（计算机图形学）
电压
击穿电压
材料科学
结构工程
光电子学
电子工程
电气工程
工程类
电信
帧（网络）
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Shiping Wang; Xiaowu Cai; Xiaojing Li; Duoli Li; Chuanbin Zeng; et al 出版日期：2022-09-24 |
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(2025-6-4)
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