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 Investigation of Switching Characteristics Degradation of GaN HEMT Under Power Cycling Aging 功率循环老化下GaN HEMT开关特性退化的研究
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期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Shengwei Gao; Xiaoyu Fu; Xingtao Sun; Yesen Han; Lixia Zhao 出版日期：2024-09-30 |
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