| 标题 |
  Single-exposure quantitative differential interference contrast microscopy using bandlimited image and its Fourier transform constraints 相关领域
微分干涉显微术
光学
显微镜
傅里叶变换
干扰（通信）
带限幅
空间频率
对比度（视觉）
相（物质）
材料科学
灵敏度（控制系统）
物理
计算机科学
电信
频道（广播）
工程类
电子工程
量子力学
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| DOI |
10.1364/OE.519412
doi
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